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高、低温环境下的介电温谱及频谱测量
更新时间:2021-07-28
阅读:2335
高、低温环境下的介电温谱及频谱测量
高、低温介电测量系统用于分析宽频、高、低温环境条件下被测样品的阻抗
Z
、电抗
X
、导纳
Y
、电导
G
、电纳
B
、电感
L
、介电损耗
D
、因数
Q
等物理量,同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线,是专业从事材料介电、温度弛豫、电弛豫研究的理想测试工具。用户通过软件可以直接得出介电间、频率、偏压变化的曲线,高温介电测量系统是功能材料测试bi备
电学评估设备。系統搭配
Labview
系统开发的
hcpro
软件,具备弹性的自定义功能,可进行频率、温度、时间、测试项等设置,符合材料测试多样化测试的需求。
本系统主要用于材料在不同温度不同频率下的电学测试,系统包含高、低温环境、阻抗分析仪、测试夹具,测试软件于一体,可测试材料的介电常数,介质损耗,阻抗谱
Co-Co
图,机电耦合系数等,同时可分析被测样品随温度,频率,时间变化的曲线,测试治具可以根据产品及测试项目要求选购;
,
实现了自动完成不同环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外,还可根据用户提供的其他
LCR
品牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计,通过测量
C
和
D
值,自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量,同时输出,测量效率高、数据丰富多样。
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