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高频抗干扰介电温谱测试系统:从10Hz到120MHz的全频域材料性能解析
更新时间:2025-07-11      阅读:28


高频抗干扰介电温谱测试系统:从10Hz到120MHz的全频域材料性能解析


一、核心技术

华测仪器推出的高温介电温谱测试系统(HCWP),专为材料在恶劣温度环境下的介电性能分析设计。可精准测量绝缘材料、压电陶瓷等功能材料在-800℃至1650℃温度区间、10Hz-120MHz频率范围内的介电常数(ε)、介质损耗(D)、阻抗谱等关键参数。


二、技术创新点

精密温控技术

l 采用PID算法与近红外镀金反射炉加热,控温精度达±0.25℃,支持匀速/阶梯/循环冲击等温变模式,升温速率最高达10℃/min。

l 炉体配置水冷系统,搭配惰性气体环境,实现急速降温与真空/气氛环境测试。

抗干扰高频测量

l 双屏蔽射频线缆与专用抗干扰模块,解决电网谐波对弱信号的影响,保障120MHz高频段测试数据的准确性。

l 铂金电极+99氧化铝陶瓷绝缘夹具,降低信号衰减,适配φ25mm样品(厚度4mm)。

智能化软件生态

l HuacePro软件平台支持介电温谱、频谱、机电耦合系数(Kp)等20+参数自动分析,具备断电数据保护功能。

l 与阻抗分析仪无缝兼容,实现多设备协同控制。


三、典型应用场景

l 绝缘材料研发:高温下介电常数与损耗角正变的原位监测(符合ASTM D150标准)。

l 压电陶瓷优化:温变过程中机电耦合系数(Kp)的动态分析。

l 半导体与纳米器件:高频段阻抗谱特性表征。


四、可靠性与安全性设计

l 三重防护机制:电压/过流/超温实时监测,异常自动断电。

l 石英炉膛+全封闭屏蔽结构,避免感应电流干扰,确保实验重复性。

高频抗干扰介电温谱测试系统:从10Hz到120MHz的全频域材料性能解析








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