高频抗干扰介电温谱测试系统：从10Hz到120MHz的全频域材料性能解析

一、核心技术

华测仪器推出的高温介电温谱测试系统（HCWP），专为材料在恶劣温度环境下的介电性能分析设计。可精准测量绝缘材料、压电陶瓷等功能材料在-800℃至1650℃温度区间、10Hz-120MHz频率范围内的介电常数（ε）、介质损耗（D）、阻抗谱等关键参数。

二、技术创新点

精密温控技术

l 采用PID算法与近红外镀金反射炉加热，控温精度达±0.25℃，支持匀速/阶梯/循环冲击等温变模式，升温速率最高达10℃/min。

l 炉体配置水冷系统，搭配惰性气体环境，实现急速降温与真空/气氛环境测试。

抗干扰高频测量

l 双屏蔽射频线缆与专用抗干扰模块，解决电网谐波对弱信号的影响，保障120MHz高频段测试数据的准确性。

l 铂金电极+99氧化铝陶瓷绝缘夹具，降低信号衰减，适配φ＜25mm样品（厚度＜4mm）。

智能化软件生态

l HuacePro软件平台支持介电温谱、频谱、机电耦合系数（Kp）等20+参数自动分析，具备断电数据保护功能。

l 与阻抗分析仪无缝兼容，实现多设备协同控制。

三、典型应用场景

l 绝缘材料研发：高温下介电常数与损耗角正变的原位监测（符合ASTM D150标准）。

l 压电陶瓷优化：温变过程中机电耦合系数（Kp）的动态分析。

l 半导体与纳米器件：高频段阻抗谱特性表征。

四、可靠性与安全性设计

l 三重防护机制：电压/过流/超温实时监测，异常自动断电。

l 石英炉膛+全封闭屏蔽结构，避免感应电流干扰，确保实验重复性。