高频抗干扰介电温谱测试系统:从10Hz到120MHz的全频域材料性能解析
一、核心技术
华测仪器推出的高温介电温谱测试系统(HCWP),专为材料在恶劣温度环境下的介电性能分析设计。可精准测量绝缘材料、压电陶瓷等功能材料在-800℃至1650℃温度区间、10Hz-120MHz频率范围内的介电常数(ε)、介质损耗(D)、阻抗谱等关键参数。
二、技术创新点
精密温控技术
l 采用PID算法与近红外镀金反射炉加热,控温精度达±0.25℃,支持匀速/阶梯/循环冲击等温变模式,升温速率最高达10℃/min。
l 炉体配置水冷系统,搭配惰性气体环境,实现急速降温与真空/气氛环境测试。
抗干扰高频测量
l 双屏蔽射频线缆与专用抗干扰模块,解决电网谐波对弱信号的影响,保障120MHz高频段测试数据的准确性。
l 铂金电极+99氧化铝陶瓷绝缘夹具,降低信号衰减,适配φ<25mm样品(厚度<4mm)。
智能化软件生态
l HuacePro软件平台支持介电温谱、频谱、机电耦合系数(Kp)等20+参数自动分析,具备断电数据保护功能。
l 与阻抗分析仪无缝兼容,实现多设备协同控制。
三、典型应用场景
l 绝缘材料研发:高温下介电常数与损耗角正变的原位监测(符合ASTM D150标准)。
l 压电陶瓷优化:温变过程中机电耦合系数(Kp)的动态分析。
l 半导体与纳米器件:高频段阻抗谱特性表征。
四、可靠性与安全性设计
l 三重防护机制:电压/过流/超温实时监测,异常自动断电。
l 石英炉膛+全封闭屏蔽结构,避免感应电流干扰,确保实验重复性。