Huace FE-3000针对不同材料应变测量设计了块体与薄膜应变测试两种测量夹具,以下是两款夹具的介绍:
1. 高分辨率pm级测量平台-振动激光干涉测量D33;
2. 可评估piezoMEMS,也可方便实现块体与薄膜的夹持;
3. 0.01nm分辨率,2MHz带宽;
4. 可实现在RT~250℃的温度下进行测量。
1. 电极较大可调行程不小于3mm,分辨率0.01mm;
2. 较大样品尺寸小于30mm;
3. 样品盒较大试验电压不低于10kV;
4. 较大加热温度:RT~250℃;
5. 采用进口品牌温度控制器;
6. 具有过温与过流保护功能。
激光测振仪+变温块体测试盒
1. 电极较大可调行程不小于3mm,分辨率0.01mm;
2. 较大样品尺寸小于30mm;
3. 样品盒较大试验电压不低于10kV;
4. 较大加热温度:RT~800℃;
5. 采用进口品牌温度控制器;
6. 具有过温与过流保护功能。
激光测振仪+高温块体测试盒
1. 适用于器件与块体材料应变测量;
2. 较大样品尺寸小于40mm;
3. 样品盒较大试验电压不低于2kV;
4. 较大加热温度:-196℃ - 250℃;
5. 采用进口品牌温度控制器;
6. 具有过温与过流保护功能。
激光测振仪高低温测试夹具
激光测振仪与薄膜压电测试(E31)相结合,可测量沉积在悬臂上的压电薄膜的压电系数(E31、D31和E33)。施加在压电薄膜上的电压使基板向各个方向弯曲。位移由激光测试振仪进时高速测量。使用薄膜压电测试套件进行的测量包括(但不限):E31、D31、D33、E33与厚度位移与电压的关系。
薄膜悬臂梁测试夹具