温度，是衡量电容器性能稳定性的关键考验。在高低温交替、工况复杂多变的环境中，如何准确捕捉电容特性的细微变化，真实还原器件在实际场景下的表现？

华测仪器 HCCT-40H 电容器温度特性评估系统，专为 MLCC、薄膜电容、陶瓷电容等多类电容器量身打造，提供一套多通道、全自动、高准确度的温变特性综合测试方案。

系统支持至多64通道同步测量，可按8通道倍数灵活选配，可实现64路样品并行测试，1 分钟内即可完成全参数扫描，大幅优化测试通量与效率，告别单通道逐点测试的漫长等待。

设备搭载三大测试模式：温度特性测试、恒定运行测试、频率特性测试，实现对电容性能的三维评估。支持至高201步频率扫描，扫描范围可按需定制，全维度追踪电容量(C)、损耗系数(D)、阻抗(Z)、电阻(Rs，Rp)、电感(Ls，Lp)等关键参数随温度、频率的变化规律。

测量采用高准度交流四端对测量法，测量频率覆盖20Hz～1MHz，直流偏压范围为0～±40V，可覆盖电容器电参数的准确测量需求，为电容器的材料研发、品质管控、可靠性验证与老化评估，提供一站式、标准化的便捷测试解决方案。