材料长期老化风险难以预判、老化性能数据难获取？华测仪器Huace-LHD-4 长期电热老化试验平台，是为电子材料、绝缘介质、压电陶瓷等试样长期电热老化测试而设计，解决材料长期老化工况模拟难、测试一致性差、试验易中断等行业痛点。

设备标配5 单独测试通道，支持按需定制通道数量，适配多批次、多试样同步测试需求；采用多路并行单独测控架构，每路温场、电压、时间等参数可单独自行设置，各通道极化互不干扰，测试互不影响，大幅优化试验效率与对比性。

搭载-40℃～150℃宽温域温控系统，可准确模拟高低温交变、恒温存续等多种复杂服役工况，真实复现材料实际应用环境，还原长期老化衰减规律；0～1kV 标准输出电压范围，支持高压量程定制，满足不同耐压等级材料的极化老化测试要求。

整机支持24 小时不间断连续运行，温控精度可达±0.5℃，电压波动为≤±1%，全程参数稳定可控，从源头保障老化试验数据准确可靠、可追溯。

内置电磁屏障腔体 + 冗余供电双保障系统，可减少外界电磁干扰、规避电网电压波动影响，减少环境扰动与供电异常造成的试验中途中断，保障长期老化试验稳定闭环运行。

采用模块化集成设计，可灵活拓展真空环境、腐蚀气体、湿度氛围等选配环境模块，可适配多场景老化测试研发需求；标配过压、过流、过温多重智能自动保护机制，实时监控设备与试样状态，异常即刻自动断电防护，保障试验过程稳定与设备使用寿命。