表面电位衰减测试系统：电介质材料电荷陷阱特性准确表征方案

华测仪器表面电位衰减测试系统，是用于电介质材料静电衰减特性表征的测试设备，可进行材料表面电位的极化、监测与数据分析，普遍应用于 XLPE 交联绝缘、电缆绝缘材料、功能薄膜等绝缘材料研发与性能评估。

系统搭载±30kV 高压极化电源，电压稳定度≤0.1%/h，确保极化过程输出电压稳定，减少测试扰动；集成室温至 160℃高准度温控平台，控温精度可达 ±0.2℃，同时配备湿度可调电极箱体，能够复现不同温湿度耦合工况，模拟材料实际工况环境。设备电极间隙 0~100mm 连续可调，可灵活适配薄膜、片材等多种形态试样。

配置 ±10kV 电位采集单元，拥有 1V 测量分辨率，5~20ms 高速响应能力，准确捕捉表面电位快速动态变化过程。配套华测仪器测试软件，可自动采集、存储测试数据，展示电位衰减曲线，并支持提取电荷陷阱分布等关键参数，为绝缘材料改性、老化机理研究、线缆材料配方优化提供稳定可靠的试验数据支撑。