HCCR-3000华测差热分析仪

一、型号（HCCR-3000）
二、华测*-差示扫描量热仪测试仪产品简介：

差热分析（DTA）是在程序控制温度下，测量物质和参比的温度差和温度关系的一种技术。当试样发生任何物理或化学变化时，所释放或吸收的热量使试样温度高于或低于参比物的温度，从而相应地在差热区线上可得到放热或吸热峰。差热曲线（DTA）是由差热分析得到的记录曲线。曲线的纵坐标为试样与参比物的温度差（△T），向上表示放热反应，向下表示吸热反应。差热分析也可以测定试样的热容变化，它在差上发映出基线的偏离。

三、华测*-差示扫描量热仪测试仪技术指标

1. 温度范围: 室温~1000℃

2. 量程范围: 0～±2000μV

3. DTA精度: ±0.1μV

4. 升温速率: 1～80℃/min

5. 温度分辨率: 0.1℃

6. 温度准确度: ±0.1℃

7. 温度重复性: ±0.1℃

8. 温度控制: 升温：程序控制        可根据需要进行参数的调整

降温：风冷 程序控制   可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等

恒温：程序控制        恒温时间任意设定

9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作

10. 气氛控制: （选配）气体流量计，气氛转换装置

11. 数据接口: RS-232串口通讯  配套数据线和操作软件

12. 主机显示: 汉字大屏液晶显示 蓝底白字

13. 参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正

14. 基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线

15. 工作电源: AC 220V  50Hz

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