当前位置:首页  >  产品展示  >    >  绝缘材料测试仪器  >  FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪

半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪
参考价:

型号:FDS 2000

更新时间:2024-09-05  |  阅读:1806

详情介绍

半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪



一、半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪主要功能

1.绝缘材料频域介电响应测试

2.绝缘系统状态评估与诊断

作出设备维护或换决定时,需要得到足够的绝缘状态信息和设备的预期负载情况。在绝缘材料、变压器、发电机或电缆设计寿命快到时,通过可靠的绝缘诊断和负载管理,额外增加数年运行时间可节省大量资金。

3.绝缘系统在任意电压激励下的介电响应测试

根据需要自定义输出任意电压波形激励,满足对不同条件下不同绝缘材料不同方面的测试需求,好地适应用户需求。



二、 半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪主要参数工作环境

应用场合:仪器适用于实验室绝缘材料研究和多种工业环境

环境温度:0~+40℃

相对湿度:0%~85%,不凝结大气压力:70~106Kpa

海拔高度:≤2000m

其他:无振动、无尘埃、无腐蚀性气体、无可燃性气体、无油雾、水蒸气、滴水或盐分等

常规

电源电压:220V±10%,50Hz

功率:40VA(MAX)

信号采集率:52.1kS/s(MAX高),分辨率24位

频域介电谱测试频率范围:1mHz-1kHz

测量时间:扫频模式约40min,快速模式约12min

尺寸:400×400×105mm



公司主营产品:
几大系列:功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。









  • * 姓名:

  • * 电话:

  • * 单位:

  • * 验证码:

  • * 留言内容:

电话 询价

产品目录