MLCC多通道介电温谱仪/陶瓷薄膜半导体块状

一、升温迅速高温介电温谱仪组成部分

它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。它为样品提供一个高温环境；高温测试夹具提供待测试样品的测试平台；阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。后，再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的测量系统。

      二、升温迅速高温介电温谱仪特点

　　可以实现常温、高温、低频条件下测量块体样品的介电；

　　可以测量阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D等物理量；

　　可以直接测量介电常数和损耗，阻抗谱Cole-Cole图；

　　集成一体化设计，触摸屏控制和显示，具有易用性；

　　电动升降平台，弹簧电极系统，操作简单，使用方便；

　　系统自带温度功能，让测量温度尽可能与样品实际温度保持一致；

　　系统采用PID模糊算法，具有控温、超温保护、一键自整定、故障诊断功能；

高温条件下模拟导线，可有效增加测试的频率带宽，减小电炉丝的交流干扰

三、技术指标

温度范围：室温-800℃，（反射炉加温）配水冷机）；

控温精度：±0.5℃；

测量精度：±0.25℃；

升温斜率：1-800℃/min（*快可10秒达800度）；

降温斜率：1-200℃/min（可自调整）；

频率范围：20Hz-1MHz；

测量精度：0.05%；

样品规格：直径：20mm以内；厚度：5mm以内；

电极材料：铂金；

测量方式：2线-4线测量方式；

供电：220V±10%，50Hz；

工作环境：0℃-55℃；

存储条件：-40℃-70℃；

尺寸：750mmX660mm×360mm；

重量：25kg

四、产品优势

华测公司为针对新材料电检测仪器全系列厂家，试验效率高。

可实现高温下的匀速、阶梯、降温下的全温度范围的测试。

可实现小于±0.5℃温度测量误差（限反射炉），jing度控制在±0.25℃以内。

五、使用范围

可测量陶瓷、薄膜、半导体等块状材料高温介电特性，可同时测量及输出频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、介电温谱的测量数据与图形。