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MLCC多通道介电温谱/频谱测试仪/测薄膜陶瓷
参考价:

型号:HCWP-1000

更新时间:2024-12-08  |  阅读:1752

详情介绍

产品名称:华测高温介电温谱测试仪-专用仪器


产品简介:


华测高温介电温谱测试仪-专用仪器是为了满足材料在高温环境下的介电测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成,包括高温介电测量仪主机、高温介电测量系统软件、高温测试夹具、阻抗分析仪四个组成部分。根据测量需要,还可以外接真空油泵进行真空环境的介电测量。高温测试平台是为样品提供一个高温环境;高温测试夹具提供待测试样品的测试平台;阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。后,再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起,形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的高温介电温谱测量系统。


系统介绍:


系统配置:Acer商用计算机,信号切换与控制系统,高温仪及温控系统,四通道夹具, 测试与数据采集软件(软件兼容同惠LCR表以及是德(安捷伦)E4980AL型LCR表和4294A型阻抗分析仪);

输入端口:四个BNC端口;

输出端口:10个SMA输出端口,需采用SMA接头以提高高频测试稳定性(频率大于1MHz时);

温度范围:室温 850℃(额定温区,长时间使用温度),室温1000℃(ji限温区,短时间使用);

系统屏蔽:通道切换主板预埋屏蔽层设计,连接线材采用射频同轴线,以保证低频与高频测试精度和稳定性;

测试夹具:融石英与探针复合夹具。其中探针需使用氧化铝与铂金复合结构,芯层为铂金,绝缘层为氧化铝。以保证长期高温测试稳定性;

同时测量样品数:4个;

测试频率范围:20Hzzhi10 MHz(依据配套LCR表或阻抗分析仪频率),基本准确度0.05%;

升温速率:升温速率0.1-10℃/min,测温精度±0.1℃

测试样品直径:2 mmzhi25 mm;

样品厚度:0.02 mmzhi4 mm;

单样品测试频率数:少6个频率测量功能;

变温介电频谱测试功能;

变温阻抗测试功能。



应用领域:

复合绝缘材料

高分子绝缘材料

无机绝缘材料

有机绝缘材料

其它绝缘材料等


技术参数:


温度范围

室温~1000℃

温度精度

±1

测量精度

0.05%

升温速率

10℃

控温方式

PID

频率范围

20HZ-30MHZ

材料

铂金

通道数

通道 1

测量环境

常温真空气氛

通讯方式

USB

设备尺寸

600X400X650m


MLCC多通道介电温谱/频谱测试仪/测薄膜陶瓷

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