HCWP高温介电温谱测试系统

如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师

HCWP高温介电温谱测试系统由华测仪器生产，搭配Huacepro软件，具备自定义测试功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。在过压、过电流、超温等异常情况下以保证测试过程正常进行；当遇到电脑异常或瞬时断电时可将资料保存于操作器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。

产品参数

温度范围：RT~1450°C

控温精度：±1℃

升温速率：0~100℃/min（可设定）

测试频率：10Hz~120MHz

加热方式：近红外加热

降温方式：水冷

输入电压：220V

样品尺寸：D≤25mm，H≤4mm

测试功能：介电温谱、频谱

产品优势

1.高速加热与降温方式

红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体降温装置，可实现快速降温

2.温度控制

近红外镀金聚焦炉和温度执行器的组合使用，可以准确控制样品的温度(远比普通加温方式)

3.不同环境下的加热与降温

加热/降温可用真空、气氛环境、低温（惰性气体静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/降温室