Huace离子迁移（CAF）评估系统

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离子迁移（CAF）评估系统由华测仪器生产，是一款用于评估电子材料与元器件绝缘可靠性的信赖性试验设备，是用于捕捉高温、高湿、电场等复杂环境下，材料及元器件因离子迁移引发的绝缘电阻劣化过程，准确判断失效风险，为产品研发、质控及失效分析提供科学数据支撑，普遍应用于电子、汽车、新能源等多行业高可靠性产品的测试需求。

技术参数

测量电压:100 ~ 1500V（可定制）

测试通道:128通道（可定制至高960通道）

测试时长:可连续运行1500小时

测试温度:85℃（可定制）

测试湿度:85%（可定制）

测量范围:1×10⁵ ~ 1×10¹⁵Ω

极化电压:100 ~ 1500V（可定制）

扫描周期:至快2分钟（128通道）

产品优势

安全与稳定性强：具备紧急停止、过温切断加热断路器等保护功能，配备防反水加湿水路系统与二级加湿用水过滤保护，既保障操作安全，又延长设备使用寿命；部分型号可选购观察窗隐私功能，保护试件隐私。

可定制适配性：支持测试参数、通道数量、环境模拟条件等按需定制，可适配标准样材、异形件（夹取方式）测试，兼容行业标准，满足不同行业、不同产品的个性化测试需求。