HC-Q37a低频高压介电常数介质损耗测试仪系统

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HC-Q37a低频高压介电常数介质损耗测试仪系统由华测仪器生产，全套系统是基于电介质介电响应理论，集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统，手动与自动模式都操作简便，软件辅助试验准备，执行和趋势分析；能提供完整的测量系统，包括：标准电容，标准损耗器、测试电极；能测量不同频率下的类型绝缘材料介电常数及损耗；系统采用高压功率放大器及锁相放大器技术。

产品参数

耗散因数(tanδ)：0 ~ 100；显示分辨率：1x10^-7

功率因数(cosφ)：0 ~ 1；显示分辨率：1x10^-6

电容：≤10nF(1kHz)

           ≤1uF(50Hz)

电感：≤ 1 kH

测试电压：2000V

测试电流@输入Cn：1pA~ 100 mA

测试电阻：上限100TΩ

测试频率：1mHz~10kHz

运行温度：-10~50℃

存储温度：-20~50℃

湿度：5~95％相对湿度，不结露

应用领域

例行试验和型式试验

电力电缆和附件

固体和液体绝缘

旁路电感

互感器

电容

套管

其他

计量机构

研发与质量控制

高校研究院

故障诊断

电力设备安装与调试

电力系统监测