HCCT-40H电容器温度特性测试系统

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HCCT-40H电容器温度特性测试系统由华测仪器生产，系统通过准确控制温度环境，并测量电容器在不同温度下的关键参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。该系统稳定可靠，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等各种类型的电容器。

产品参数

测量项目：电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) 和电感 (Ls，Lp)

测试方法：温度特性评价试验

                  恒定运行检测

                  频率特性评价试验

通道配置：8通道（标准）；至多64通道可扩展8通道增量

测量方法：交流四端对测量

测量范围：测量频率：20 Hz ~ 1 MHz

                  电容量(C)：50 pF ~ 5 mF

                  损失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999

                  阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

直流偏压：0 ~ ±40V

温度测量间隔：1 ℃

扫描周期：64通道可在1min之内完成

频率步长：201步（范围可定制）

补偿：短时补偿，开放补偿