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并行导通电阻测试系统
参考价:¥400000

型号:Huace DT-L3

更新时间:2026-04-07  |  阅读:21

详情介绍

华测仪器Huace DT-L3并行导通电阻测试系统

价格仅供参考,如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例,欢迎致电我司技术工程师


Huace DT-L3并行导通电阻测试系统由华测仪器生产,可在低高温交替的温度循环环境中,采用4端子测试法,对焊点、连接器接点等导体连接部位开展多通道高准度微小电阻连续监测,以此评估电子装配工艺的规范性及材料本身的连接可靠性。配套操作软件可实现测量过程的自动化运行,实时采集并记录各项测试数据,通过图表直观呈现微小电阻的动态变化趋势及试验箱的温度波动情况。


产品优势

抗干扰能力强

不受交流信号的寄生电容、电感、线缆电抗影响,尤其适合长线束、大电流端子、高频器件测试

贴合实际工况多数产品工作在直流 / 低频,直流测量结果与发热、压降、功率损耗直接对应,具有工程参考价值

适用范围广

可测金属、焊料、ACF、导电胶、连接器、继电器、PCB 等导电 / 连接结构,通用性强

稳定易控制

小电流即可实现高准度测量,不易损伤器件、不引发发热漂移,对芯片、FPC 等器件友好


产品参数

测试通道:128通道(可定制至960通道)

测试量程:1Ω、10Ω、100Ω、1kΩ、100kΩ、1MΩ以及AUTO

分辨率:100μΩ

测量范围:1×10⁻³-1×10⁶Ω

环境箱:适配多种型号


并行导通电阻测试系统


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