华测仪器 多通道绝缘电阻劣化评价系统

价格仅供参考，如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师

多通道绝缘电阻劣化评价系统由华测仪器生产，离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。华测仪器的业务涵盖从单台测试设备供应到整体实验室规划建设的全过程。建设绝缘材料或功能材料电性能检测实验室，华测仪器可提供从方案设计到交付验收的完整服务。

产品参数

测量电压:100 ~ 1500V（可定制）

测试通道:128通道（可定制至高960通道）

测试时长:可连续运行1500小时

测试温度:85℃（可定制）

测试湿度:85%（可定制）

测量范围:1×10^5 ~ 1×10^15Ω

极化电压:100 ~ 1500V（可定制）

扫描周期:至快2分钟（128通道）

应用领域

电子材料：印刷BGA、CSP等节距IC封装件

封装材料：助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、密度高的封装材料

半导体：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等

电子元器件：电容、连接器等其他电子元器件及材料

绝缘材料：各种绝缘材料的吸湿性特性评估