Huace-LHD系列多物理场多通道长期老化试验平台

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Huace-LHD系列多物理场多通道长期老化试验平台由华测仪器生产，能够模拟多种工业制品、零部件以及原材料的实际生产、使用、储存和运输过程中的高压伴随着低温、高温、潮湿、干燥、高低温湿热交变、加速温度变化、温度循环等环境因素的影响，以测试其功能、性能及寿命的完整性和可靠性，可进行连续试验，高能简便地评估因老化腐蚀现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。

产品参数

Huace-LHD-4

通道数：4ch（至大25ch）

电源规格：3相5线制AC 380V±10% 50Hz

散热方式：采用PWM调速风机、风冷

被测物：标准样材、异形件（夹取方式）

电源类型：直流

电源输出范围：电压：0~1kV

电流：0~1A

功率：1200W

电源调解率：电压：0.1%F.S

设定精度：电压：0.1%F.S

Huace-LHD-8

通道数：8ch（至大40ch）

输出电源类型：直流/交流

劣化分析：电流采集：1pA~20mA

测量精度：1％

测试时间：10s/1ch(可设置)

电源输出范围：电压：5kV~20kV （可定制）