华测仪器多通道绝缘电阻劣化监测系统

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多通道绝缘电阻劣化监测系统由华测仪器生产，是一种信赖性试验设备，它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况，从而评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象的影响。

产品参数

技术指标

测量电压:100 ~ 1500V（可定制）；

测试通道:128通道（可定制至高960通道）；

测试时长:可连续运行1500小时；

测试温度:85 ℃（可定制）；

测试湿度:85 %（可定制）；

测量范围:1×10⁵ ~ 1×10¹⁵Ω；

极化电压:100 ~ 1500V（可定制）；

扫描周期:至快 2分钟（128通道）；

环境试验箱（可定制）

应用领域

电子材料：印BGA、CSP等节距IC封装件；

封装材料：助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、密度高的封装材料；

半导体：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

电子元器件：电容、连接器等其他电子元器件及材料；

绝缘材料：各种绝缘材料的吸湿性特性评估；