华测仪器Huace TEC-150TEC(帕尔贴)冷热台

价格仅供参考，如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师

Huace TEC-150TEC(帕尔贴)冷热台由华测仪器生产，利用半导体热电转换特性为样品提供可控高低温环境，支持与显微镜、光谱仪等光学设备联用，实现变温过程中原位光学观测与性能测试。无需制冷剂、无机械运动部件，解决传统制冷设备振动、需耗材、控温响应慢等问题，适用于对环境稳定性要求高的测试场景。

主要技术指标

设备型号：Huace TEC-150

冷热方式：TEC (帕尔贴)

温度范围：-40℃~150℃

温度稳定性：± 0.1℃

升温速率：0~30℃/min (可定点/程序段控温)

降温速率：0~30℃/min (可定点/程序段控温)

载样台材质：铜

载样台尺寸：40mm×40mm

光路：反射/透射 (可选配)

透射光路直径：Φ2mm (可选配)

腔室：无 (开放式)

选配：定制水循环系统、定制软件控温系统等

应用领域

材料科学

相变、热膨胀、热电性能研究

半导体与电子器件

温控特性测试

光学与光谱学

拉曼、荧光、红外光谱原位变温测试

化学与催化反应

变温反应过程观测

教学与工业检测

温控环境下的质量检测