华测仪器HC600-190-P8电学探针温控台

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HC600-190-P8电学探针温控台由华测仪器生产，产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-180~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）范围内准确控制，与其他电学仪表（如源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。产品需要与温度调控器、制冷调控器（选配）配套使用，配套的的上位机温控软件方便进行温度设置及采集。

产品优势

1.宽温度范围：-180 ~ 600℃ / RT~1000℃（选型）；

2.高温度稳定性：±0.1℃ / ±1.0℃；

3.气密室：气密腔室设计，可升级真空腔室（10-3 mBar）；

4.温度分辨率：0.1 ℃；

5.升降温速度：0 ~ 30℃/min；

6.多种选择：多款探针及接口选择；

应用领域

半导体材料与器件测试

可表征半导体材料（如硅基、化合物半导体）在不同温度下的电学性能。

介电、铁电与压电材料研究

用于研究介电常数、铁电滞回线、压电响应随温度变化的规律。

纳米材料与低维结构电学表征

如石墨烯、碳纳米管、二维材料（MoS2、WS2等）在变温环境下的导电性能测试。