华测仪器HCCT-40H MLCC电容器温度特性评估系统

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HCCT-40H MLCC电容器温度特性评估系统由华测仪器生产，测试时系统可自动识别开路、短路类异常阵元，将测试结果以图片、Excel 表格两种格式存入对应被测物型号专属文件夹。本系统兼顾操作便捷性与数据可追溯性，可满足研发验证、产线检测、故障排查等不同测试场景需求。

性能指标需求

测量性能

电容测量范围：1pF~1μF

测量准度：±0.3%

测试频率：固定1kHz

测试电平：0.1V~0.3V 

测量模式：Cp并联电容模式，适配电容测量特性

 设备稳定性

连续工作稳定性：设备开机预热 30min 后，重复测量同一标准电容，测量误差≤±0.2%；对同一被测物连续测试 100 次，数据重复误差≤±0.3%。

环境适应性：环境温度 20±5℃、相对湿度 40%~60% 且无强电磁干扰时，设备可稳定运行，测量数据无显著漂移。

接口与适配性

测试线接口：按被测物型号定制，适配线阵、凸阵、相控阵等常见接口，接触可靠，插拔顺畅。

测试板接口：预留通用对接接口，支持64/80/128通道测试线可切换。