华测仪器HCCT-40H多通道电容器温度特性测试系统

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HCCT-40H多通道电容器温度特性测试系统由华测仪器生产，系统可根据被测物型号、通道数定制对应测试线，通过软件校准减小线缆带来的测量误差，完成阵元电容准确测量。

性能指标需求

测量性能

电容测量范围：1pF~1μF

测量准度：± 0.3%

测试频率：固定 1kHz

测试电平：0.1V~0.3V 

测量模式：Cp并联电容模式，适配电容测量特性

设备稳定性

连续工作稳定性：设备开机预热 30min 后，重复测量同一标准电容，测量误差≤±0.2%；对同一被测物连续测试 100 次，数据重复误差≤±0.3%；

环境适应性：环境温度 20±5℃、相对湿度 40%~60% 且无强电磁干扰时，设备可稳定运行，测量数据无显著漂移；

接口与适配性

测试线接口：按被测物型号定制，适配线阵、凸阵、相控阵等常见接口，接触可靠，插拔顺畅；

测试板接口：预留通用对接接口，支持64/80/128通道测试线切换；

通信接口：测试板通过 USB 与上位机通信，数据传输稳定无丢包；软件兼容 Windows10 及以上操作系统；