华测仪器HCCT-40H电容器温度‑频率特性综合测试系统

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HCCT-40H电容器温度‑频率特性综合测试系统由华测仪器生产，功能包括静态电容（C₀）批量测试、异常阵元自动识别以及测试报告规范归档。系统可根据被测物型号、通道数定制对应测试线，通过软件校准减小线缆带来的测量误差，完成阵元电容准确测量。测试时系统可自动识别开路、短路类异常阵元，将测试结果以图片、Excel 表格两种格式存入对应被测物型号的文件夹。

产品优势

1、至多64个通道的自动测量

可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)，可选择8个通道的倍数，至多64个通道

2、图形功能查看测量结果

收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查

3、可从不同测试模式选择

温度特性评估测试：在此测试模式下，自动记录特性数据，与温度变化同步，频率步数201步（范围可定制）

持续运行测试：测试模式测量参数的变化特定中随时间推移的特征自动记录数据

频率特性评价试验：试验模式在特定温度环境下改变频率，自动记录不同频率下的特性数据