华测仪器静电表面电位衰减测试系统

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静电表面电位衰减测试系统由华测仪器生产，是一款面向材料电学特性研究的多功能分析设备，是为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计，集高压极化、准确温控、快速信号采集及智能化分析于一体，支持针、栅、板三种电极配置，可模拟不同温湿度环境下的材料电荷动态响应，为绝缘材料、功能薄膜、电子器件等领域的质量控制提供数据支持。

技术参数

充电电源：±30 kV

加热台温度范围：室温 ~ 160 ℃

控温精度：± 0.2 ℃

输入电压：AC 220 V ±10%，50 HZ

额定输出电压：0～+30kV

额定输出电流：≤ 1 mA

电压调整率：≤ 0.1%

温度系数：≤ 0.1 %/℃

测量范围：0 ~ ±10 kV

稳定性：时间漂移<100 ppm/小时（非累积）；温度漂移<200 ppm/℃

应用领域

绝缘材料研发

评估高压电缆、电容器薄膜等介电材料的耐压性能与电荷消散特性；

功能薄膜分析

研究光伏背板、柔性电子器件的表面电荷行为及陷阱效应；

半导体器件优化

表征栅极介质层、封装材料的电荷陷阱分布，优化器件可靠性；