华测仪器HCRD-300L薄膜电弱点测试系统

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HCRD-300L薄膜电弱点测试系统由华测仪器生产，该系列产品的主要特点是能根据薄膜的使用宽度进行电弱点的测试，测试宽度可根据用户的要求而设定，无须将膜分切成小卷，免除了许多外来因素对测试结果的影响。测试数据能真实地反映薄膜的质量水平。具有可靠性、耐用性和稳定性，测试过程采用电子技术全自动控制，遇到电弱点时电压切断动作迅速，击穿电流在0～40mA连续可调，复现性好。

产品参数

可放置卷芯长度：30~1800mm

试验电压精度：≤2%

测试电压：DC：50V~6kV  AC：50V~5kV

电压精度：2%

厚度范围：450mm

产品移动速度：3-10m/min 连续可调

软件功能

操作系统：支持XP，win7,win8系统，操作人性化；

实时监测：在实验过程中可以动态显示电弱点数量、膜移动距离等；

数据导出：试验结果方便导出。

实验报告：自定义报告名称，并对实验报告进行打印；

试验方式：直流试验和交流试验、进行选择；

参数设置：可以根据不同的试验方式及试验方法灵活设置所需的不同参数值；

校准功能：可针对设备进行校准设置；