华测仪器HCCT-40H电容高低温电学性能测试系统

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HCCT-40H电容高低温电学性能测试系统由华测仪器生产，测试时系统可自动识别开路、短路类异常阵元，将测试结果以图片、Excel 表格两种格式存入对应被测物型号专属文件夹。本系统兼顾操作便捷性与数据可追溯性，可满足研发验证、产线检测、故障排查等不同测试场景需求。

产品优势

1、至多64个通道的自动测量

可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)。

2、图形功能允许实时查看测量结果

收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。

3、可从不同测试模式选择

温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。

4、多种可选夹具 适用于不同的试验样本（可选）

除了SMD组件的夹具外，还提供了根据离散设备形状定制的夹具。

测量性能

电容测量范围：1pF ~ 1μF

测量准度：±0.3%

测试频率：固定1kHz

测试电平：0.1V~0.3V 

测量模式：Cp并联电容模式，适配电容测量特性

连续工作稳定性：设备开机预热 30min 后，重复测量同一标准电容，测量误差≤±0.2%；对同一被测物连续测试 100 次，数据重复误差≤±0.3%。