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202511-12
绝缘材料离子迁移行为与电化学失效评估系统

一、离子迁移的物理机制离子迁移（IonMigration）是电子器件可靠性失效的关键机理之一，指在电场和湿度协同作用下：1.金属离子化：电路中的铜（Cu²⁺）、...

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