华测仪器HCCT-40H多通道电容温频特性评估系统

价格仅供参考，如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师

HCCT-40H多通道电容温频特性评估系统由华测仪器生产，系统通过准确控制温度环境，并测量电容器在不同温度下的关键参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。该系统稳定可靠，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等各种类型的电容器。

产品优势

至多64个通道的自动测量

可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)，可选8个通道的倍数，至多64通道。

图形功能允许实时查看测量结果

收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过图形函数进行审查。

产品参数

测量项目：电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) 和电感 (Ls，Lp)

通道配置：8通道（标准）；至多64通道可扩展8通道增量

测量方法：交流四端对测量

测量范围：测量频率：20Hz~1MHz

电容量(C)：50pF~5mF

损失因子(D)：0.00001~9.99999

阻抗(Z)：0.00001Ω~99.9999MΩ