HCCT-40H多通道电容器温度性能检测系统

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HCCT-40H多通道电容器温度性能检测系统由华测仪器生产，是将环境试验箱与评估系统相结合，效率采集数据的自动化多通道系统。仪器自动评估高温和高温/高湿环境下电容器的绝缘退化特性。该系统稳定可靠，适用于包括MLCC、陶瓷电容、薄膜电容等多种类型的电容器。

产品参数

测量项目：电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) 和电感 (Ls，Lp)

测试方法：温度特性评价试验（相对于温度的变化）

恒定运行检测（相对于检测时间的变化）

频率特性评价试验 （相对于频率的变化）

通道配置：8通道（标准）；至多到64通道

测量方法：交流四端对测量

测量范围：测量频率：20 Hz~1MHz

电容量(C)：50pF~5mF

损失因子(D)：0.00001~9.99999

阻抗(Z)：0.00001Ω~99.9999 MΩ

测量仪器：LCR表（可按需选择型号）

直流偏压：0~±40V

温度测量间隔：1 ℃

扫描周期：64通道可在1min之内完成

频率步长：201步（范围可定制）

补偿：短时补偿，开放补偿