华测仪器HCCT-40H电容器温度 - 频率特性评估系统

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HCCT-40H电容器温度 - 频率特性评估系统由华测仪器生产，是将环境试验箱与评估系统相结合，效率采集数据的自动化多通道系统。仪器自动评估高温和高温/高湿环境下电容器的绝缘退化特性。该系统稳定可靠，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等多种类型的电容器。

产品优势

1、可从不同测试模式选择

温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试结合。

温度特性评估测试：在此测试模式下，自动记录特性数据，与温度变化同步，频率步数201步（范围可定制）；

持续运行测试：测试模式测量以下参数的变化特定中随时间推移的特征自动记录数据；

频率特性评价试验：试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据。

2、多种可选夹具适用于不同的试验样本（可选）

除了SMD组件的夹具外，根据提供离散设备形状定制的夹具。

产品参数

测量方法：交流四端对测量

直流偏压：0~±40V

温度测量间隔：1 ℃

扫描周期：64通道可在1min之内完成