当前位置:首页  >  产品展示  >  新品推荐  >  电容器温度特性评估系统  >  HCCT-40H多通道电容器温变特性测试系统

多通道电容器温变特性测试系统
参考价:¥500000~500000

型号:HCCT-40H

更新时间:2026-07-10  |  阅读:161

详情介绍

华测仪器HCCT-40H多通道电容器温变特性测试系统

价格仅供参考,如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例,欢迎致电我司技术工程师


HCCT-40H多通道电容器温变特性测试系统由华测仪器生产,测试时系统可自动识别开路、短路类异常阵元,将测试结果以图片、Excel 表格两种格式存入对应被测物型号专属文件夹。本系统兼顾操作便捷性与数据可追溯性,可满足研发验证、产线检测、故障排查等不同测试场景需求。


测量性能

电容测量范围:1pF~1μF

测量准度:± 0.3%

测试频率:固定 1kHz

测试电平:0.1V~0.3V 

测量模式:Cp并联电容模式,适配电容测量特性


功能需求

多型号/通道数适配功能

针对不同型号、不同通道数被测物(主流 64/80/128 通道,可扩展至 256 通道),可定制专属电容测试线;测试线接口与被测物匹配,和测试板插拔对接,规避接触不佳问题。

校准功能

软件内置电缆线校准功能:更换测试线后或每次启动测试前,均需通过软件执行线缆校准,减小测试线自身寄生电容与引线误差,保障测量准度。

批量测试功能

支持被测物全部阵元批量检测,单款被测物全自动扫描时长不超过 1 分钟,设备逐通道自动巡检,无需人工切换阵元。


多通道电容器温变特性测试系统


  • * 姓名:

  • * 电话:

  • * 单位:

  • * 验证码:

  • * 留言内容:

电话 询价

产品目录