华测仪器HCCT-40H MLCC 多通道温度-频率特性评估系统

价格仅供参考，如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师

HCCT-40H MLCC 多通道温度-频率特性评估系统由华测仪器生产，功能包括静态电容（C₀）批量测试、异常阵元自动识别以及测试报告规范归档。可根据被测物型号、通道数定制对应测试线，通过软件校准减小线缆带来的测量误差，完成全部阵元电容准确测量。测试时系统可自动识别开路、短路类异常阵元，测试结果以图片、Excel 表格两种格式存入对应被测物型号专属文件夹。本系统兼顾操作便捷性与数据可追溯性，可满足研发验证、产线检测、故障排查等不同测试场景需求。

产品参数

电容测量范围：1pF~1μF

测量准度：±0.3%

测试频率：固定1kHz

测试电平：0.1V~0.3V 

测量模式：Cp并联电容模式，适配电容测量特性

应用领域

通信与信息技术

电子材料：印刷电路板、通量、绝缘材料（树脂、薄膜等）、介电材料（钛、陶瓷、钽、铝电解材料等）

华测仪器的业务涵盖从单台测试设备供应到整体实验室规划建设的全过程。建设绝缘材料或功能材料电性能检测实验室，华测仪器可提供从方案设计到交付验收的完整服务。