华测仪器HCCT-40H电容器温度特性自动化评估系统

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HCCT-40H电容器温度特性自动化评估系统由华测仪器生产，功能包括静态电容（C₀）批量测试、异常阵元自动识别以及测试报告规范归档。系统可根据被测物型号、通道数定制对应测试线，通过软件校准减小线缆带来的测量误差，完成全部阵元电容准确测量。测试时系统可自动识别开路、短路类异常阵元，将测试结果以图片、Excel 表格两种格式存入对应被测物型号专属文件夹。本系统兼顾操作便捷性与数据可追溯性，可满足研发验证、产线检测、故障排查等不同测试场景需求。

测量性能

电容测量范围：1pF~1μF

测量准度：±0.3%

测试频率：固定1kHz

测试电平：0.1V~0.3V 

测量模式：Cp并联电容模式，适配电容测量特性

连续工作稳定性：设备开机预热 30min 后，重复测量同一标准电容，测量误差≤±0.2%；同一被测物连续测试 100 次，数据重复误差≤±0.3%

环境适应性：环境温度 20±5℃、相对湿度 40%~60% 且无强电磁干扰时，测量数据无显著漂移；测试线插拔循环1000次以上保持可靠接触