华测仪器HCLD-2相比漏电起痕指数测定仪

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HCLD-2相比漏电起痕指数测定仪由华测仪器生产，是根据耐漏电起痕试验（电痕化指数试验）的标准，规定的模拟仿真试验项目。用以评价固体绝缘材料表面在电场和潮湿或污染介质联合作用下的耐漏电性能，测定其相比电痕化指数 (CTI) 和耐电痕化指数(PTI) 。电痕化是指固体绝缘材料在电应力和电解杂质的联合作用下，在表面（或内部）产生导电通道。

设备软件

采用高度集成化设计，内置智能测试软件，通过12寸触摸屏控制，操作简单，具备试验稳定性，并有断电资料保存功能，可实现数据图像的保存恢复，支持多种测试标准。

产品特点

1.带有滤波、隔离变压器、稳压变压器

2.自动化程度高

3.带有排风口

4.具有数据数显、存储功能

5.具有过流保护、过压保护、门限保护等

产品参数

试验电压：100V~1000V（可定制）

控制方式：12 寸触摸屏控制系统

滴液高度：30~40mm 连续可调

滴液间隔时间：1s~999s

滴液大小：（20.0 ~ 23.0）mm³ 连续可调

试验终止：50滴或100滴或漏电流≥0.5A并维持时间≥2s