华测仪器HCLD-2塑料漏电起痕老化试验设备

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HCLD-2塑料漏电起痕老化试验设备由华测仪器生产，HCLD-2低压漏电起痕试验仪由华测仪器生产是根据耐漏电起痕试验（电痕化指数试验）的标准，规定的模拟仿真试验项目。用以评价固体绝缘材料表面在电场和潮湿或污染介质联合作用下的耐漏电性能，测定其相比电痕化指数 (CTI) 和耐电痕化指数(PTI) 。电痕化是指固体绝缘材料在电应力和电解杂质的联合作用下，在表面（或内部）产生导电通道。

设备软件

采用高度集成化设计，内置智能测试软件，操作简单，具备试验稳定性，并有断电资料保存功能，可实现数据图像的保存恢复，支持多种测试标准。

产品参数

试验电压：100V~1000V（可定制）

控制方式：12寸触摸屏控制系统

滴液高度：30~40mm 连续可调

试验电压压降：≤5%

电极距离：4.0mm±0.1mm，夹角 60°±5

电极压力：1.0±0.05N(可调)

滴液间隔时间：1s~999s

短接电流：1A

滴液大小：（20.0~23.0）mm³连续可调

试验终止：50滴或100滴或漏电流≥0.5A并维持时间≥2s