华测仪器绝缘电阻劣化与 CAF 离子迁移评估系统

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绝缘电阻劣化与 CAF 离子迁移评估系统由华测仪器生产，是用于捕捉高温、高湿、电场等复杂环境下，材料及元器件因离子迁移引发的绝缘电阻劣化过程，准确判断失效风险，为产品研发、质控及失效分析提供科学数据支撑，普遍适配电子、汽车、新能源等多行业高可靠性产品的测试需求。

产品参数

技术指标

测量电压:100 ~ 1500V（可定制）

测试通道:128通道（可定制至高960通道）

测试时长:可连续运行1500小时

测试温度:85℃（可定制）

测试湿度:85%（可定制）

测量范围:1×10^5 ~ 1×10^15Ω

极化电压:100 ~ 1500V（可定制）

扫描周期:至快2分钟（128通道）

环境试验箱（可定制）

产品价值

1. 识别离子迁移、绝缘劣化、漏电短路等潜在失效模式，降低产品出厂后失效风险，提升产品长期可靠性；

2. 为材料选型、工艺优化、设计裕度调整提供数据支撑，助力企业提升产品研发效率，降低研发成本；

3. 满足多行业标准测试要求，增强市场竞争力；

4. 适配研发、质控、失效分析全流程，实现绝缘可靠性评估，提升检测效率，简化测试流程。