华测仪器绝缘可靠性（离子迁移）测试系统

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绝缘可靠性（离子迁移）测试系统由华测仪器生产，是一款用于评估电子材料与元器件绝缘可靠性的信赖性试验设备，是用于捕捉高温、高湿、电场等复杂环境下，材料及元器件因离子迁移引发的绝缘电阻劣化过程，准确判断失效风险，为产品研发、质控及失效分析提供科学数据支撑，普遍适配电子、汽车、新能源等多行业高可靠性产品的测试需求。

技术参数

测量电压:100 ~ 1500V（可定制）

测试通道:128通道（可定制至高960通道）

测试时长:可连续运行1500小时

测试温度:85℃（可定制）

测试湿度:85%（可定制）

测量范围:1×10^5 ~ 1×10^15Ω

极化电压:100 ~ 1500V（可定制）

扫描周期:至快2分钟（128通道）

应用领域

电子材料：印BGA、CSP等节距IC封装件；

封装材料：助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、密度高的封装材料；

半导体：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

电子元器件：电容、连接器等其他电子元器件及材料；

绝缘材料：各种绝缘材料的吸湿性特性评估。